SN74AHCT164点击型号查看芯片规格书
Texas Instruments(德州仪器)芯片芯片规格书大全
德州仪器SN74AHCT164/SN74AHCT164- q1 8位并行输出移位寄存器具有and门控串行输入和异步清除(CLR)输入。输出直接连接到内部移位寄存器，当值被转移到寄存器时，导致立即输出变化。门控串行(A和B)输入允许对传入数据进行完全控制。任何一个输入端的低电平抑制新的数据输入，并在下一个时钟(CLK)脉冲时将第一个触发器重置为低电平。高级输入启用另一个输入，确定第一个触发器的状态。当CLK为低或高时，只要满足最小设置时间要求，串行输入端的数据就可以改变。时钟发生在CLK的低级到高级转换上。德州仪器SN74AHCT164-Q1器件符合AEC-Q100汽车应用标准。
工作范围4.5V ~ 5.5V (CC)
TTL-compatible输入
低延迟，最大14ns (V(CC) = 5V, C(L) = 50pF)
闭锁性能超过250mAper JESD 17
增加微控制器的输出数量
临时最多存储8位数据
