Analog Devices公司ADMX2001B精密阻抗分析仪测量模块简化了阻抗测量系统的开发或可用于增强现有测试平台的功能。ADMX2001B采用高性能混合信号和处理算法,可以测量小至0.1fF的电容变化和高达1G欧姆的电阻值,通常需要测试半导体器件、电子元件和传感器。此外,内置的测量算法使Analog Devices Inc.。ADMX2001B以各种格式提供完全校准的复杂阻抗或导纳测量结果,包括电阻、电容和电感的并联和串联组合。
从0.2Hz到10MHz的复杂阻抗测量
高吞吐量
2.7ms测量时间
0.05%基本相对精度
宽测量范围
阻力从100μ欧姆到1G欧姆
电容从100aF到10F
电感从10pH到100H
可编程测试信号
16位幅度调节,最高达2.4V
频率分辨率为0.2Hz
16位直流偏置设置±2.4V
直流电阻测量
18阻抗测量格式为C、R、L、Z、Y
自动多点和参数扫描
校准和夹具补偿功能
用于测量可追溯性的自动校准程序
校正系数存储在非易失性存储器中
补偿消除了夹具寄生的影响
自动化测试设备
半导体特性
晶片验收试验
电阻抗谱学
阻抗网络分析
电池测试