元器件信息
2024-01-08 15:57
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摘要： 可用于测量生命信号。
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2023-12-28 14:07
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元器件信息
2023-12-26 10:52
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摘要： mcu提供高达32KB内存，4KB数据SRAM和512B EEPROM。
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2023-12-26 10:45
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摘要： 帮助评估ADGM1121，一个双芯片，射频开关解决方案，包含一个DPDT MEMS开关。
元器件信息
2023-12-22 10:41
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摘要： 缓冲，8通道同步采样DAS与差分，宽共模范围输入。
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2023-12-21 10:22
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摘要： 利用片上带隙温度传感器和带过温检测的a - d转换。
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2023-12-20 15:58
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摘要： 设计用于评估ADG1534，一个包含四个独立SPDT开关的模拟开关。
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2023-12-20 15:55
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摘要： 该模块简化了阻抗测量系统的开发。
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2023-12-19 10:17
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摘要： 通过1EDI3050AS SPI功能提供充分的灵活性来评估IGBT或SiC性能。
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2023-12-18 10:27
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