元器件信息
2022-10-14 18:13
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ADUM3223BRZ是4A隔离半桥门驱动器，采用模拟设备公司的iCoupler®技术提供独立隔离的高压侧和低压侧输出。ADUM3223BRZ在窄体16引线SOIC封装中提供3000Vrms隔离，而它在宽体16引线SOIC封装中提供5000Vrms隔离。隔离元件结合了高速CMOS和单片变压器技术，提供了优于脉冲变压器和栅极驱动器等替代产品的卓越性能。ADUM3223BRZ隔离器各提供两个独立的隔离...
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2022-10-14 18:13
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ADUM5402ARWZ是四通道数字隔离器，带有集成隔离直流-直流转换器isoPower®。基于AnalogDevices，Inc.的iCoupler®技术，dc-dc转换器可在5.0V或3.3V输入电源或3.3V3.3V3.3V3.3V电源下，以表1所示的功率水平提供高达500mW的稳压隔离电源。这些设备在低功率、隔离设计中不需要单独、隔离的dc-dc转换器。I耦合芯片级变压器技术用于隔离dc-...
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2022-10-14 18:13
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ADUM1400ARW是基于模拟设备公司的iCoupler®技术的四通道数字隔离器。隔离组件结合了高速CMOS和单片空心变压器技术，提供了优于光耦器件等替代产品的卓越性能。通过避免使用LED和光电二极管，I耦合器设备消除了通常与光耦合器相关的设计困难。通过简单的I耦合器数字接口和稳定的性能特性，消除了关于不确定电流传输比、非线性传输函数以及温度和寿命效应的典型光耦问题。
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2022-10-14 18:13
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ADUM3400ARWZ是基于模拟设备公司的iCoupler®技术的4通道数字隔离器。此隔离组件结合了高速CMOS和单片空心变压器技术，提供了优于光耦器件等替代产品的卓越性能。i耦合器设备消除了通常与光耦合器相关的设计困难。通过简单的I耦合器数字接口和稳定的性能特性，消除了关于不确定电流传输比、非线性传输函数以及温度和寿命影响的典型光耦问题。
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2022-10-14 18:12
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ADUM1402ARWZ是基于模拟设备公司的iCoupler®技术的四通道数字隔离器。隔离组件结合了高速CMOS和单片空心变压器技术，提供了优于光耦器件等替代产品的卓越性能。通过避免使用LED和光电二极管，I耦合器设备消除了通常与光耦合器相关的设计困难。通过简单的I耦合器数字接口和稳定的性能特性，消除了关于不确定电流传输比、非线性传输函数以及温度和寿命效应的典型光耦问题。
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2022-10-14 18:12
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ADUM2201ARWZ是基于模拟设备公司的iCoupler®技术的双通道数字隔离器。此隔离组件结合了高速CMOS和单片空心变压器技术，提供了卓越的性能特性，优于光耦器件等替代产品。通过避免使用LED和光电二极管，I耦合器设备消除了通常与光耦合器相关的设计困难。通过简单的I耦合器数字接口和稳定的性能特性，消除了关于不确定电流传输比、非线性传输函数以及温度和寿命影响的典型光耦问题。
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2022-10-14 18:12
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ADUM161N0BRZ是基于模拟设备公司的iCoupler®技术的6通道数字隔离器。此隔离组件结合了高速互补金属氧化物半导体(CMOS)和单片空心变压器技术，提供了优于光耦器件和其他集成耦合器等替代产品的卓越性能。在5V工作电压下，最大传播延迟为13ns，脉宽失真小于4.5ns。传播延迟的信道到信道匹配在最大4.0ns时非常紧密。
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2022-10-14 18:12
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ADUM1311ARWZ是基于模拟设备公司的iCoupler®技术的三通道数字隔离器。此隔离元件结合了高速CMOS和单片空心变压器技术，提供了优于光耦器件等替代产品的卓越性能。通过避免使用LED和光电二极管，I耦合器设备消除了通常与光耦合器相关的设计困难。通过简单的I耦合器数字接口和稳定的性能特性，消除了与不确定的电流传输比、最高工作温度和寿命效应有关的典型光耦问题。
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2022-10-14 18:12
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ADUM1281BRZ是基于模拟设备公司的iCoupler®技术的双通道数字隔离器。此隔离组件结合了高速CMOS和单片空心变压器技术，提供了优于光耦器件和其他集成耦合器等替代产品的卓越性能。当传输延迟为20纳秒时，C级的脉宽失真小于2纳秒。通道到通道的匹配在C级为5ns时非常紧密。ADUM1281BRZ的两个通道是独立的隔离通道，有两个通道配置，三种不同的数据速率最高可达100Mbps。
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2022-10-14 18:12
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ADUM3211ARZ是基于AnalogDevices，Inc.的iCoupler®技术的双通道数字隔离器。此隔离元件结合了高速CMOS和单片变压器技术，提供了优于光耦器件等替代品的卓越性能。通过避免使用LED和光电二极管，I耦合器设备消除了通常与光耦合器相关的设计困难。通过简单的I耦合器数字接口和稳定的性能特性，消除了与不确定的电流传输比、非线性传输函数、温度和寿命效应有关的典型光耦问题。
